ОБЪЕКТ-МИКРОМЕТРЫ

Объект-микрометры ОМО (для отражённого света) и ОМП (для проходящего света) (далее - ОМ) предназначены для определения увеличения линейного поля зрения микроскопов, проекторов, цены деления окулярных шкал и сеток. 

ВАЖНО! Международными стандартами предписывается проверять правильность показаний отсчётного микроскопа на объект-микрометрах перед каждой рабочей сменой, а если в течение рабочей смены производиться большое количество замеров - то после каждой крупной серии таких измерений. Для выбора объект-микрометра необходимого типа перейдите в раздел "ОБЪЕКТ-МИКРОМЕТРЫ".

МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКАЯ ПОДГОТОВКА

Металлографическая пробоподготовка представляет собой процесс получения качественного образца для исследований, который имеет правильную форму и наилучшим образом подходит для изучения. Качество подготовки образца в конечном счёте влияет на качество результатов исследований, т.е. если вы имеете в лаборатории высококлассное оборудование для металлографической пробоподготовки, то и образцы будут хорошо подготовлены и они все будут иметь правильную одинаковую форму, что в итоге даст высокую повторяемость свойств металлов в каждом образце из партии, улучшает воспроизводимость, уменьшает погрешность измерений. Для получения образцов предлагается специальное оборудование для пробоподготовки: станки отрезные, шлифовально-полировальные и лабораторные прессы.

МИКРОСКОПЫ МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЕ

Предназначены для исследований в отраженном свете как объектов металлической природы, так и любых непрозрачных или полупрозрачных материалов в металлургии, минералогии, геологии, археологии, микроэлектронике и т.д. Объектами исследований здесь являются "шлифы", то есть вырезанные и тщательно отшлифованные пластинки металла. С помощью металлографических микроскопов в отраженном свете проводится анализ зерен металла (размер и расположение), неметаллических включений и фаз в металле (анализ частиц); контроль структуры поверхностного слоя (шероховатость и плоскостность), а также обнаружение различных дефектов. Металлографические микроскопы помогут выявить мелкие трещины, раковины и дефекты кристаллического строения. Микроскопы металлографические бывают прямые и инвертированные. Разница между ними состоит в том, как расположены объективы, насадка и окуляры по отношению к объекту: в прямых металлографических микроскопах наблюдательная часть расположена над объектом, а инвертированных – под объектом. Часто металлографический микроскоп комплектуются поляризатором и анализатором для проведения исследований в поляризованном свете, а также в тёмном поле, что позволяет достичь очень точных результатов исследований. 

МПБ-2 микроскоп отсчётный Бринелль

Внесено в Государственный реестр

Микроскопы отсчётные тип МПБ предназначены для проведения обследований и измерений отпечатков (лунок), полученных на поверхности металлов с использованием твердомеров по методу Бринелль.

МПБ-75 микроскоп отсчётный Бринелль

Не внесено в Государственный реестр
Микроскоп отсчётный типа МПБ-75 предназначен для и измерения отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля.

МПБ-77 микроскоп отсчётный Бринелль с USB камерой

Не внесено в Государственный реестр
Микроскоп отсчётный типа МПБ-77 с цветной камерой USB предназначен для и измерения отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля. Модель МПБ-77 является усовершенствованной моделью МПБ-75 за счёт дополнения цветной цифровой камерой 2Мп с USB-кабелем 2.0, которая позволяет делать снимки и выводить изображение на монитор компьютера в режиме реального времени. Приложение ПО русифицировано.