<p style="text-align: justify;">
</p>
Для визуального наблюдения микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отражённом свете при прямом освещении в светлом поле и поляризованном свете. <br>
<b>Магнитный координатный стол</b> с микроподвижками для установки на металлические валы и крупногабаритные детали, которые невозможно поместить под обычный металлографический микроскоп. Имеется V-образный вырез платформы для позиционирования на цилиндрических изделиях Ø≤10 мм.<br>
Измерение микрообъектов дополнительным окуляром с <b>измерительной микрометрической шкалой</b> (100 делений). <br>
Подключение дополнительной цветной цифровой <b>видеокамеры</b> к компьютеру или цифровой <b>фотокамеры</b>. <br>
Производство: <b>Россия</b>.
</p>
Для визуального наблюдения микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отражённом свете при прямом освещении в светлом поле и поляризованном свете. <br>
<b>Магнитный координатный стол</b> с микроподвижками для установки на металлические валы и крупногабаритные детали, которые невозможно поместить под обычный металлографический микроскоп. Имеется V-образный вырез платформы для позиционирования на цилиндрических изделиях Ø≤10 мм.<br>
Измерение микрообъектов дополнительным окуляром с <b>измерительной микрометрической шкалой</b> (100 делений). <br>
Подключение дополнительной цветной цифровой <b>видеокамеры</b> к компьютеру или цифровой <b>фотокамеры</b>. <br>
Производство: <b>Россия</b>.
Описание
<div>
Для визуального наблюдения и контроля микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете при прямом освещении в светлом поле, а также в поляризированном свете.<br>
Производство: <b>Россия</b>.
</div>
<br>
Для визуального наблюдения и контроля микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете при прямом освещении в светлом поле, а также в поляризированном свете.<br>
Производство: <b>Россия</b>.
</div>
<br>
Описание
<p style="text-align: justify;">
</p>
<div>
Для исследования качества литья, плавки и высокотемпературной обработки, для тестирования сырья и обработанных материалов и анализа материалов после высокотемпературной обработки. <br>
Производство: <b>Россия</b>.
</div>
<p style="text-align: justify;">
</p>
</p>
<div>
Для исследования качества литья, плавки и высокотемпературной обработки, для тестирования сырья и обработанных материалов и анализа материалов после высокотемпературной обработки. <br>
Производство: <b>Россия</b>.
</div>
<p style="text-align: justify;">
</p>
Описание
Матрица детектора 160х120 пикселей, диапазон измерений температуры от -20 до +350 <sup>0</sup>С, погрешность ±2 <sup>0</sup>С, порог температурной чувствительности (NETD) ≤ 0,07 <sup>0</sup>С, углы поля зрения 35<sup>0</sup>×26<sup>0</sup>, пространственное разрешение (IFOV) 3,87 мрад, 5 цветовых палитр, единицы измерения температур <sup>0</sup>С / <sup>0</sup>F, дисплей 2,8" TFT.<br>
Производство: <b>Россия</b>. <br>
Производство: <b>Россия</b>. <br>
Описание
Матрица детектора 220х160 пикселей, диапазон измерений температуры от -20 до +350 <sup>0</sup>С, погрешность ±2 <sup>0</sup>С, порог температурной чувствительности (NETD) ≤ 0,07 <sup>0</sup>С, углы поля зрения 35<sup>0</sup>×26<sup>0</sup>, пространственное разрешение (IFOV) 2,77 мрад, 5 цветовых палитр, единицы измерения температур <sup>0</sup>С / <sup>0</sup>F, дисплей 2,8" TFT.<br>
Производство: <b>Россия</b>. <br>
Производство: <b>Россия</b>. <br>
Описание
Матрица детектора 200х150 пикселей, диапазон измерений температуры от -40 до +300 <sup>0</sup>С, погрешность ±2 <sup>0</sup>С, порог температурной чувствительности (NETD) ≤ 0,065 <sup>0</sup>С, углы поля зрения 35<sup>0</sup>×26<sup>0</sup>, пространственное разрешение (IFOV) 3,05 мрад, 9 цветовых палитр, единицы измерения температур <sup>0</sup>С / <sup>0</sup>F / <sup>0</sup>K, дисплей 2,8" TFT.<br>
Производство: <b>Россия</b>. <br>
Производство: <b>Россия</b>. <br>
Описание
Матрица детектора 320х240 пикселей, диапазон измерений температуры от -20 до +300 <sup>0</sup>С, погрешность ±2 <sup>0</sup>С, порог температурной чувствительности (NETD) ≤ 0,07 <sup>0</sup>С, углы поля зрения 56<sup>0</sup>×42<sup>0</sup>, пространственное разрешение (IFOV) 3,05 мрад, 5 цветовых палитр, единицы измерения температур <sup>0</sup>С / <sup>0</sup>F, дисплей 2,8" TFT.<br>
Производство: <b>Россия</b>. <br>
Производство: <b>Россия</b>. <br>
Описание
Матрица детектора 320х240 пикселей, диапазон измерений температуры от -40 до +300 <sup>0</sup>С, погрешность ±2 <sup>0</sup>С, порог температурной чувствительности (NETD) ≤ 0,065 <sup>0</sup>С, углы поля зрения 56<sup>0</sup>×42<sup>0</sup>, пространственное разрешение (IFOV) 3,05 мрад, 9 цветовых палитр, единицы измерения температур <sup>0</sup>С / <sup>0</sup>F / <sup>0</sup>K, дисплей 2,8" TFT.<br>
Производство: <b>Россия</b>. <br>
Производство: <b>Россия</b>. <br>
Описание